x射線衍射 x熒光 直讀光譜3種儀器,都有哪些區別,原理是什

2021-03-22 04:04:08 字數 5314 閱讀 5779

1樓:匿名使用者

直讀光譜儀和x射線熒光均屬於發射光譜,不是你所說的吸收光譜,用小車推的屬於行動式移動光譜儀,是直讀光譜儀的一種。

直讀光譜儀主要分為立式、臺式、移動三種,分析穩定性和精度依次下降。

x射線熒光主要分為波長、能量與行動式三種,分析精度也是按照剛才的順序依次下降,功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、定性分析

元素分析類儀器:原子吸收、icp(等離子體發射光譜儀)、icp-ms(等離子體質譜儀)、gd(輝光放電光譜儀)、gd-ms(輝光放電質譜儀)、直流電弧光譜儀。以上都主要使用者樣品中元素分量的分析,當然這些只是光譜系列的,色譜系類的儀器也可以進行部分元素含量的分析

除了以上儀器,還有一些主用的元素分析儀,例如檢測非金屬中chnso五個元素的元素分析儀、檢測總有機碳的toc分析儀、檢測食品及環境樣品中汞的測汞儀等等

以上所述儀器均為元素總量測定,基本上不能進行元素價態的分析,謝謝!

直讀光譜儀和x射線熒光分析儀有什麼不同?補充:主要想了解應用方面

2樓:攪蘸淄

兩者都可以應用於鑄造,機械加工的金屬分析。直讀屬於定量分析,以m5000為例,主要應用於冶金爐前快速定量分析、金屬材料質量監控。手持x射線屬於定性半定量,比如聚光盈安mix5,主要應用於材料分類、合金牌號鑑別、rohs檢測,***檢測等

x射線衍射儀與x射線熒光光譜儀的區別?

3樓:匿名使用者

x射線衍射儀(xrd)是礦物學研究領域內的主要儀器,用於對結晶物質的定性和定量分析。

x射線熒光光譜儀(xrf)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。

兩種儀器構造與使用物件不同,xrd要複雜,xrf通常比較小。

4樓:霍曉紀

x射線熒光和x射線衍射的區別在於前者是對材料進行成份分析的儀器,而後者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的裝置。

x射線熒光光譜儀的原理是什麼?

5樓:匿名使用者

x熒光光譜儀(xrf)由激發源(x射線管)和探測系統構成。x射線管產生入射x射線(一次x射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次x射線,並且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。

探測系統測量這些放射出來的二次x射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的資訊轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

近年來,x熒光光譜分析在各行業應用範圍不斷拓展,已成為一種廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域,特別是在rohs檢測領域應用得最多也最廣泛。   大多數分析元素均可用其進行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析範圍為be到u。並且具有分析速度快、測量範圍寬、干擾小的特點。

優缺點:

優點:   a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

  b) x射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關係。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高解析度的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟x射線範圍內,這種效應更為顯著。

波長變化用於化學位的測定 。   c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。

同一試樣可反覆多次測量,結果重現性好。   d) x射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。   e) 分析精密度高。

  f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。   缺點:   a)難於作絕對分析,故定量分析需要標樣。

  b)對輕元素的靈敏度要低一些。   c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

6樓:匿名使用者

就是測量得到物質所激發出的特徵輻射的波長,根據莫塞萊定律,就可以確定出他的原子序數。所以,用於元素成分定性、定量分析。

你說的是老稱呼,現在商品的儀器叫「x射線光電子能譜儀」。

x射線衍射、x熒光、直讀光譜3種儀器,都有哪些區別,原理是什麼?檢測領域?

7樓:匿名使用者

一、直讀光譜儀採用原子發射光譜學的分析原理,樣品經過電弧或火花放電激發成原子蒸汽,蒸汽中原子或離子被激發後產生髮射光譜,發射光譜經光導纖維進入光譜儀分光室色散成各光譜波段,根據每個元素髮射波長範圍,通過光電管測量每個元素的最佳譜線,每種元素髮射光譜譜線強度正比於樣品中該元素含量,通過內部預製校正曲線可以測定含量,直接以百分比濃度顯示。己被廣泛使用於幾乎所有的光譜測量,分析及研 究工作中,特別適應於對微弱訊號,瞬變訊號的檢測.

二、x熒光光譜儀(xrf)由激發源(x射線管)和探測系統構成。x射線管產生入射x射線(一次x射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次x射線,並且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。

探測系統測量這些放射出來的二次x射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的資訊轉換成樣品中各種元素的種類及含量。廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域

三、x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由於物質要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術是主流的x射線衍射分析技術。

單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構。粉末衍射也可以分析出空間結構。但是大分子(比如蛋白質等)等複雜的很難分析。

x射線粉末衍射可以

1,判斷物質是否為晶體。

2,判斷是何種晶體物質。

3,判斷物質的晶型。

4,計算物質結構的應力。

5,定量計算混合物質的比例。

6,計算物質晶體結構資料。

7,和其他專業相結合會有更廣泛的用途。

比如可以通過晶體結構來判斷物質變形,變性,反應程度等

8樓:匿名使用者

二、x熒光光譜儀(xrf)由激發源(x射線管)和探測系統構成。x射線管產生入射x射線(一次x射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次x射線,並且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。

探測系統測量這些放射出來的二次x射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的資訊轉換成樣品中各種元素的種類及含量。廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域

感覺這個是有廣泛!!!!!!!!!!!!

什麼是x射線衍射分析,分析儀器有哪些

9樓:牽著你的手

x射線衍射相分析(phase analysis of xray diffraction)利用x射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。

x射線衍射相分析(phase analysis of xray diffraction)利用x射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質,都有其特定的晶體結構,包括點陣型別、晶面間距等引數,用具有足夠能量的x射線照射試樣,試樣中的物質受激發,會產生二次熒光x射線(標識x射線),晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置(峰位)可以進行化合物的定性分析,測定譜線的積分強度(峰強度)可以進行定量分析,而測定譜線強度隨角度的變化關係可進行晶粒的大小和形狀的檢測。

原子吸收分光光度計與x射線熒光分析儀有什麼區別?

10樓:4323舍

首先原理不同,進而構造不同,因此可檢測的物質也不同。

原子吸收光譜法是依椐處於氣態的被測元素基態原子對該元素的原子共振輻射有強烈的吸收作用而建立的。該法具有檢出限低(火熖法可達ng?cm–3級)準確度高(火熖法相對誤差小於1%),選擇性好(即干擾少)分析速度快等優點。

在溫度吸收光程,進樣方式等實驗條件固定時,樣品產生的待測元素相基態原子對作為銳線光源的該元素的空心陰極燈所輻射的單色光產生吸收,其吸光度(a)與樣品中該元素的濃度(c)成正比。即 a=kc 式中,k為常數。據此,通過測量標準溶液及未知溶液的吸光度,又巳知標準溶液濃度,可作標準曲線,求得未知液中待測元素濃度。

該法主要適用樣品中微量及痕量組分分

熒光光譜儀及其原理

1 什麼是xrf?

一臺典型的x射線熒光(xrf)儀器由激發源(x射線管)和探測系統構成。x射線管產生入射x射線(一次x射線),激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出二次x射線,並且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。

探測系統測量這些放射出來的二次x射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統所收集到的資訊轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

利用x射線熒光原理,理論上可以測量元素週期表中的每一種元素。在實際應用中,有效的元素測量範圍為11號元素 (na)到92號元素(u)。

2 x射線熒光的物理意義:

x射線是電磁波譜中的某特定波長範圍內的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,kev)和波長(單位:nm)描述。

x射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上執行,內層電子(如k層)在足夠能量的x射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會導致該電子殼層出現相應當電子空位。

這時處於高能量電子殼層的電子(如:l層)會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應當電子空位。由於不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次x射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次x射線具有特定的能量特性。

這一個過程就是我們所說的x射線熒光(xrf)。

11樓:

原子分光一般是測元素的,而且是一般是重金屬

熒光則是測熒光物質的

國產x熒光光譜儀和國外的x熒光光譜儀有什麼區別?

12樓:匿名使用者

x熒光光譜儀的工作方式主要分為兩種,一種是波長色散的,另一種是能量色散的。

由於兩者的檢測方式不同,造成了**上的區別。

波長色散x熒光光譜儀需要大功率激發,所以相對的儀器體積也比較大,工作功率大概在3kw到4kw。他的檢測下限相對會更低一些。當然**也會很高。都是百萬以上的裝置。

能量色散x熒光光譜儀的工作功率就要低很多了,一般只有200w左右,而且體積也很小,檢測下限要比波譜稍高一些,但是如果是用於生產中的檢測應該沒有問題。**相對較低,一般在百萬以內,但也要有幾十萬(大概70萬左右,含國產製樣裝置,但配置不同,**還會有差異)

現在x熒光光譜儀的應用範圍相對較廣,無論是礦物,土壤,木材,化纖材料,金屬,塑料橡膠,還有液體油品都可以檢測。

當然在選擇裝置時要注意的是該產品使用的熒光管、靶材還有檢測器,這幾個核心部件是儀器使用效果的關鍵。

不建議使用國產裝置,雖說這幾年國產能譜的企業也除了很多,市場上也有一定的銷量,但從儀器的穩定性,檢測能力及設計結構的合理性,熒光管及靶材的選擇方面,都相對有一些差距。

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